產(chǎn)品概述：

電子元件恒溫恒濕試驗(yàn)箱是專為電阻、電容、芯片、傳感器、連接器、線路板等電子元件設(shè)計(jì)的環(huán)境可靠性測(cè)試設(shè)備，通過(guò)精準(zhǔn)模擬高溫高濕、低溫干燥、溫濕度循環(huán)等復(fù)雜環(huán)境，評(píng)估電子元件在不同氣候條件下的性能穩(wěn)定性、電氣安全性及使用壽命。

核心功能與測(cè)試目的

電氣性能：如電阻值漂移、電容容量衰減、芯片邏輯功能失效、連接器接觸電阻增大（因濕度導(dǎo)致氧化）等；

物理穩(wěn)定性：如線路板焊點(diǎn)開裂（溫度驟變導(dǎo)致熱脹冷縮不均）、元件封裝材料老化（高溫導(dǎo)致開裂或密封性下降）、引腳銹蝕（高濕環(huán)境下的電化學(xué)腐蝕）；

安全風(fēng)險(xiǎn)：如絕緣材料擊穿電壓下降（高濕導(dǎo)致絕緣性能弱化）、元件短路（凝露引發(fā)的漏電）等。

技術(shù)參數(shù)：

電子元件恒溫恒濕試驗(yàn)箱是電子制造業(yè) “可靠性工程" 的核心設(shè)備，通過(guò)模擬不同環(huán)境條件下的長(zhǎng)期應(yīng)力，幫助企業(yè)提前發(fā)現(xiàn)電子元件的潛在缺陷，是保障終端設(shè)備（如手機(jī)、汽車、航天器）穩(wěn)定運(yùn)行的關(guān)鍵測(cè)試環(huán)節(jié)。